Атомно-силовая микроскопия позволяет исследовать материалы не только с проводящими, но и с диэлектрическими характеристиками.
Анализ структуры поверхностного слоя методом АСМ проводился для композитов на основе ЦЭПС с BaTiO3 в исходном состоянии и после модифицирования введением оксидов кобальта и ниобия. Анализ проводили с использованием сканирующего зондового микроскопа Solver PRO в полуконтактном режиме.
Метод суспензионной полимеризации винилхлорида
Термопластичный
полимер поливинилхлорид (ПВХ) – твердое вещество белого цвета, являющееся
продуктом полимеризации винилхлорида, выпускается в виде сыпучего порошка,
готового для дальнейшей ...
Алкалоиды и история их открытия
...
Синтез жирных кислот
Синтетические жирные кислоты (далее по тексту – СЖК)
находят широкое применение как заменители пищевых жиров в производстве мыла и
моющих средств, пластификаторов, мягчителей, стабилизаторов ...