|
|
Рисунок 3. СТМ изображение простого "hut" островка, полученного напылением чистого Ge на Si(100). Высота островка ~3 нм, основание 20 и 40 нм. Плоскости огранки островка имеют направление {105}.
С ростом средней толщины пленки в дополнение к граням {105} картины ДБЭ показывают появление граней {113} и {102}. Эта стадия роста характеризуется как формирование "dome" - кластеров, рис.4. Переход от "hut" - кластеров размером в основании 15 - 20 нм к "dome" - кластерам (средние размеры 50 - 100 нм) сопровождается увеличением степени релаксации механических напряжений. По данным Floro et al. материал в кластерах типа "hut" упруго релаксирован в среднем на 20%, тогда как в островках типа "dome" из-за большего отношения высоты к основанию релаксация составляет более чем 50%, при этом островки остаются по-прежнему когерентно сопряженными с подложкой.
Рисунок 4. Изображение "Dome" островка с веденными дислокациями несоответствия[].
Как показывают многочисленные экспериментальные наблюдения, последней стадией развития морфологии и структуры островков GexSi1-x на Si (001) и (111) является образование трехмерных пластически - деформированных островков с ДН в границе раздела с подложкой, сопровождающееся быстрым увеличением их размеров (см. например, [, ]).
Кинетика химических реакций.
Цель работы - изучение
скорости химической реакции и ее зависимости от различных факторов: природы
реагирующих веществ, концентрации, температуры.
Учение о
скорости химической реакции называетс ...
Свойства вулканизаторов
Механические свойства
резин из фторкаучуков существенно зависят от состава смеси и метода
вулканизации. Например резины полученные радиационной вулканизацией,
превосходят перекисные по теплостойкос ...
Растворение твердых веществ
Тема контрольной работы
«Растворение твердых веществ» по дисциплине «Химическая
технология неорганических веществ».
Под термином растворение
понимают гетерогенные реакции, протекающие ме ...